基于Halcon的太阳能硅片缺陷检测技术研究 Research on Solar Wafer Defect Detection Technology based on Halcon 齐鲁工业大学（山东省科学院）电气工程与自动化学院 段华伟 Duan Huawei 摘 要：针对太阳能硅片生产过程中碎片率增加的问题，同时为了有效避免太阳能电池对相关工艺造成的影响，需要使用机器视觉系统进行有效的缺陷检测，因此，提出了基于Halcon图像处理的太阳能硅片表面缺陷系统的总体设计方案，介绍了太阳能硅片检测系统的主要组成部分、图像处理的关键算法以及实施此项技术的好处。 关 键 词：太阳能硅片[登陆后可查看全文]