研华「2014量嵌入式测试与测技术巡回研讨会」圆满落幕
日期:2014-07-03 16:07

　　2014年6月24日研华以敏捷开发和智能监诊技术提升生产测试效能--嵌入式测试测量软件开发与智能监诊趋势论坛首场北京站成功举办。本次研讨会以测试测量技术在智能监诊及敏捷开发等领域的应用为主要内容，探讨了。NET Framework的最新发展趋势及商机。与此同时，介绍了研华为测试测量行业提供的整体解决方案和软硬件产品。研讨会现场气氛热烈，观众在现场操作了研华最新量测产品，互动积极，深切地感受到嵌入式测试测量技术的创新应用与整体解决方案。



研华2014嵌入式测试与量测技术巡回研讨会现场图片



　　研讨会中，研

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