以国际化的视角呈现光电行业全方位的慕尼黑上海光博会将于2015年3月17日至19日在上海新国际博览中心如期举行。展会将集中展示涵盖激光器与光电子、光学与光学制造、激光生产与加工技术、成像，检测和质量控制四大板块的全方位产品内容，是不容错过的业内展会。

　　作为亚洲最大的激光、光学、光电行业盛会，慕尼黑上海光博会自2006年以来在上海举办并将于2015年迎来10周年庆典。世界领先的测量与过程控制解决方案供应商—雷尼绍公司也将鼎力参与，共勉前行。旗下ATOM™微型增量式光栅、RESOLUTE™绝对式光栅、TONiC™紧凑型接触式光栅、RG2/RG4增量式光栅等一系列最新精密位置反馈系统产品都将倾力展现。 诚邀阁下莅临雷尼绍展位，展位号N1-1402。

　　同期举行的2015检测行业应用技术交流论坛将于3月18日在上海新国际博览中心N1-M40会议室举行。届时，雷尼绍光栅产品经理李虎将携主题为《超小型光栅ATOM在电子半导体行业的应用》演讲内容与各位电子行业领域专家和观众分享、探讨。也期待您的热情参与。
ATOM™增量式光栅系统 　　ATOM是一款雷尼绍隆重推出的、全新非接触式的增量式直线光栅和圆光栅系统，它采用了独特的创新设计，将微型化与优异的抗污能力、信号稳定性和可靠性完美结合。
ATOM最小尺寸可达6.8 mm x 20.5 mm x 12.7 mm，是世界上第一款采用光学滤波系统及自动增益控制 (AGC) 和自动偏置控制 (AOC) 的微型光栅。

　　ATOM读数头可提供各种型号，具有一流的精度、超低的电子细分误差 (SDE)、极低的抖动、极高的信号稳定性和长期可靠性等优点，计量性能首屈一指。ATOM的工作速度可达20 m/s（在17 mm码盘上为29,000 RPM），分辨率达1 nm（在108 mm码盘上为0.004角秒），可提供不锈钢及玻璃材质的直线栅尺和圆光栅。读数头还包含方便其进行快速安装的LED安装指示灯，以及可实现快速优化的自动校准程序。

侧出线型RESOLUTE™绝对式光栅
　　雷尼绍全新推出一款侧出线型RESOLUTE绝对式光栅，圆光栅和直线光栅均有此选项。为满足平板显示器 (FPD)、电子零部件组装及测试设备市场的需求，这种配置应运而生，它可与各种现有协议兼容。侧出线极大增加了轴行程，是纵向空间有限的直线应用的理想选择。该光栅可在同一栅尺上并列安装读数头，从而允许在下述应用中控制轴上多个点，例如用于生产液晶显示器 (LCD) 的液体分配系统，以及半导体生产、电子装配和测试的各个阶段。

TONiC™紧凑型接触式光栅 　　雷尼绍TONiC系列产品是用于高动态精密运动系统的新一代超紧凑型光栅，为各种要求严格的工业领域提供了更高的精度、速度和可靠性。该读数头采用第三代光学滤波系统，噪声（抖动）更低，具有极佳的可靠性和抗污染能力。TONiC读数头还有一个可分离的模拟或数字接口，该接口为坚固耐用、使用方便的接头，可放置在距读数头不超过10 m远的地方。接口提供的数字信号经细分后分辨率可达1 nm，定时输出数字信号保证了所有分辨率下各种工业标准控制器的最佳速度性能。

RGH24直线光栅系统
　　开放式、非接触RGH24读数头配有雷尼绍独特灵活的20 µm RGS20-S钢带栅尺，具有1 um、0.1 um、10 nm等多种分辨率。RGH24结构轻巧，非常适宜在LED封装设备、倒装贴片机、激光划线机等其空间有限的场合应用。RGH24超小型读数头带有内置细分电路，能够提供具备工业标准的模拟和数字输出。

RGH45光栅系统
　　雷尼绍RGH45读数头拥有已得到市场认可的RG4直线光栅系统的所有优点 — 提供非接触式的高速性能，并且拥有光学滤波系统，为防尘、防污染和防划痕提供了可靠的性能保证。RGH45读数头专门与雷尼绍的高精度RTLR40不锈钢带栅尺配用。读数头密封在坚固的压铸件外壳中，采用优质的固态元件，具有超凡的可靠性。双限位开关感应功能和重复性参考零位也属于标准配置，可提供轴两端各自的限位信号。 　　除了精密位置反馈系统外，还将展出的另一个亮点是雷尼绍公司的激光干涉仪和球杆仪测量系统，用于评估、监控并提高机床、坐标测量机 (CMM) 及其他位置精度要求关键的运动系统的静态和动态性能。

XR20-W无线型回转轴校准装置 　　XR20-W采用无线电动控制，数据采集与轴运动同步，即在数据采集期间无需操作员干预。该装置与雷尼绍激光系统配合使用，通过远控的方式为被测机床提供高度统一的非接触基准测量。使用XR20-W回转轴校准装置及早对回转轴进行误差检测，能够使机床发挥最佳性能。

XL-80激光干涉仪 　　XL-80激光干涉仪不仅可测量直线定位、俯仰及扭摆角度、直线度及垂直度等静态几何精度，还可用于机器振动、频谱分析、运动速度及角速度测量分析等动态场合。它广泛应用在数控机床及坐标测量机精度检测、计量器具（包括部分光学仪器）的溯源检定及其他大范围、高精度、高速动态测量等工业领域。